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Geck 2003 : A Radar Based High Precision Thickness Measuring system for dielectric materials , 12th IEEE Conference on Microwave Technique, Pardubice, 2003, pp. 268 273 B. Geck 1999 : Berührungslose Messung der Schichtdicke dielektrischer Materialien mit einem auf dem FMCW Prinzip basierenden Reflektometer , Tagungsband IEEE Workshop: Short Range Radars, Ilmenau, 1999, S. 10 14.
Geck 2003 : A Radar Based High Precision Thickness Measuring system for dielectric materials , 12th IEEE Conference on Microwave Technique, Pardubice, 2003, pp. 268 273 B. Geck 1999 : Berührungslose Messung der Schichtdicke dielektrischer Materialien mit einem auf dem FMCW Prinzip basierenden Reflektometer , Tagungsband IEEE Workshop: Short Range Radars, Ilmenau, 1999, S. 10 14.
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